（11月2日）物理系學術報告🔤：用於質量檢測的光學測量技術
來源🫔：物理系
時間：2009-10-21 瀏覽：
報告名稱： 用於質量檢測的光學測量技術
報 告 人： 喬軼 博士
單 位： 美國3M公司
時 間☠️： 11月2日上午10：00
地 點： 物理館512學術會議室
在學術和工業領域，光學測量技術已廣泛用於質量檢測。在報告中，將給出光學檢測的三個例子。第一是用於結構安全檢測（如飛機、橋梁等）的光纖布拉格光柵傳感器的使用，第二是用於納米顆粒合成過程監視的光學測量技術的應用，第三是有關人造納米或微米結構的3D輪廓測量技術。這些光學測量技術具有高精密度🐛、準確性和速度及非破壞性的優點🚶🏻♀️。只有精確測量才能改進製備技術和工藝👷🏽🪫，因此,光學測量將是製備更小（或更大）、更好🫴🏿、更快器件能力的關鍵使能技術。
